Tin tức & Sự kiện

最新的高德电子报Vol.0031 - 新一代智能光电子能谱仪 - X-tool 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。  

最新的高德电子报Vol.0030 - 讨论俄歇电子能谱仪在真空内进行原位冷脆断分析 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0029 - 俄歇电子能谱仪在绝缘样品分析中的应用 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0028 - PHI-5000 VersaprobeII选配件－紫外光电子谱（UPS）应用 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

本公司将于2014年1月27日起，正式迁往以下新的办公地址：   香港九龙荔枝角 永康街37-39号 福源广场12楼A-B室     电话及传真则维持不变。 电话：(852) 37489602 传真：(852) 35273507   谨此通知。   高德科创有限公司   您可以通过点击 此处 阅读本公司的搬迁通知。

最新的高德电子报Vol.0027 - Tof-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪）对生物样品的应用 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

简单高效的分析－从大面积到微区分析并加上自动队列分析的功能演示   2013年5月8日，高德英特携ULVAC-PHI部分中国用户成功举办了第一次网络研讨会。此次研讨会主要讨论如何在XPS分析中，充分利用PHI在X-Ray独特的聚焦扫描设计，有效行使从大面积分析到微区分析功能，并演示了如何利用仪器的自动化设计，完成自动队列分析。   此次共有15位国内新老用户参与讨论，高德英特将以这种形式持续开展此类技术研讨会，旨在：   使新用户能够在此平台，与同行及高德英特甚至原厂的工程师进行交流，更容易掌握如何操作XPS获得有效数据以及对数据进行科学处理。 为资深用户提供交流平台，用户之间可就仪器操作、数据处理、仪器维护等展开深层次讨论。 为想了解XPS的工作人员提供科普平台，传播表面分析概念，甚至PHI独特聚焦扫面X-Ray设计可以为其科研工作提供研究思路。   高德英特为了能够持续开展此类讨论会，充分了解客户需求，讨论会在结束前会收集客户反馈信息。从第一次讨论会反馈信息得出未来讨论方向为：   如何调节分析参数，获得有效数据。 从真实样品采集数据后，如何进行数据处理，并结合结果进行讨论。 常见系统问题处理及简单仪器维护。   我们期待通过这种形式的讨论会，能够简单方便的为使用者及潜在用户搭建交流平台，传递表面分析知识及最新技术进展，实现共赢。

最新的高德电子报Vol.0026 - 俄歇表面分析的应用－PHI710展示出的表面超优越空间分析率和在深度剖析时极高的深度分析率 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0025 - PHI 710新一代俄歇电子能谱仪 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0024 - 客户访谈 – 与用户间的用後交流 上海师范大学化学系 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。