Tin tức & Sự kiện

最新的高德电子报Vol.0039 - AES中的全元素深度剖析 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0039 - AES中的全元素深度剖析 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0037 - AES定性与定量分析概述 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

9月1日，昆明理工大学迎来其60周年校庆日。当日，数百名来自海内外的嘉宾、校友代表欢聚一堂，举行庆典大会，共庆昆工60周年华诞。   应昆明理工分析测试中心邀请，高德公司叶上远先生和鲁德凤女士参加了校庆活动并于2014-9-2日上午在昆明理工报告厅举办技术讲座，与各位老师和同学开展技术交流活动。参加会议交流的老师和同学有百人左右，讲座中主要介绍了PHI XPS & AES的原理、功能、应用、数据采集和处理等内容。下午继续和课题组的老师同学们在图书馆会议室讨论XPS和SIMS在锂电池和燃料电池分析中的应用，以及介绍PHI 的MULTIPAK软件等。   此次技术讲座和交流得到了昆工老师同学们的大力支持和积极反馈，让大家更多地了解了表面分析技术XPS和AES在各个行业和领域中的应用。        

最新的高德电子报Vol.0036 -  XPS深度剖析数据处理LLS&TFA  已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

2014年表面科学分析与技术应用学术会议，由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，四川大学分析测试中心协办，於8月29至30日在成都四川大学红瓦宾馆成功举办。   高德英特（北京）科技有限公司积极参与了本次会议，共5人参加，同时也邀请了ULVAC-PHI工厂的专家柴崎先生和真田先生，参加了本次会议。并在会议现场设置了展台，向与会的各位专家和学者，展示了ULVAC-PHI所制造的表面分析仪器，当中包括Ｘ射线光电子能谱仪，即PHI 5000 Versaprobe II, PHI Quantera II 及 X-TOOL；俄歇电子能谱仪, PHI710；和飞行时间-二次离子质谱仪，PHI-TRIFT V。     会议期间来自ULVAC-PHI的技术专家真田先生做了题为‘Scanning XPS Microprobe to Support Advanced Inorganic and Organic Materials Analysis’，向与会的各位老师详细的介绍了扫描X-射线光电子能谱仪的原理及其优势。同时，介绍了扫描X-射线光电子能谱仪在电子封装微连接方面和燃料电池方面的应用，让国内专家了解扫描微聚焦X-ray特点。会后与会的全体人员合影留念。

最新的高德电子报Vol.0035 - XPS中的全元素深度剖析 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0034 - XPS深度剖析概述 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0033 - XPS定性与定量分析概述 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。

最新的高德电子报Vol.0032 - 高德英特（北京）科技有限公司登陆仪器信息网 已经发布了！     您可以通过 技术资料 > 电子报 或点击 此处 获得整版的信息。