ULVAC-PHI, Inc., có trụ sở chính tại Chigasaki, Nhật Bản, được công nhận rộng rãi là nhà lãnh đạo thế giới trong lĩnh vực thiết bị phân tích bề mặt. Trong nhiều thập kỷ, ULVAC-PHI đã thiết lập tiêu chuẩn cho các kỹ thuật Quang phổ Quang điện tử Tia X (XPS), Quang phổ Điện tử Auger (AES) và Phổ khối Ion thứ cấp Thời gian bay (TOF-SIMS), cung cấp các thiết bị kết hợp hiệu suất và độ tin cậy vượt trội.
ULVAC-PHI tiếp tục đẩy giới hạn của việc đặc tính hóa bề mặt, đặc biệt với các công nghệ đầu tiên trên thế giới như nguồn tia X quét kép cho phân tích kết hợp XPS và HAXPES.
